| Ionenkristalle lassen sich leicht
spalten und sind - wie z.B. auch Graphit - beliebte Testproben
zur Bestimmung des Abbildungsrauschens und zur Eichung des
Mikroskops. In den hochaufgelösten Bildern sind Stufen und
Schraubenversetzungen sichtbar. |
| KBr (Gitterkonstante 0.33 nm) Ableitung des
Topographie-Signals, Bildgröße 13 µm. Instrument: Digital
Instruments Nanoscope IIIa Multimode, im "Tapping Mode". |
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Auf größerer Skala sieht man kreisförmig
gestufte Terrassenstrukturen.
Bildgröße 50 µm;
topographisches Bild (z-Bereich 40 nm) und Ableitung des
Topographie-Signals. Instrument: Park Scientific Instruments
Autoprobe CP, im "Intermittent Contact Mode". |
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| Für atomare Auflösung muss im Ultrahochvakuum gemessen
werden, hier mit einem Selbstbau-AFM basierend auf einem qPlus
Kraftsensor (Markus Herz 2002, unveröffentlicht). Topographisches
Bild von KCl, Bildgröße 1.9 nm, Höhenvariation ca. 50 pm.
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