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06460


Materialwiss. Master Wintersemester 2006/2007
06460 Introduction to Materials Science Analysis Methods [PV]
   
Dozent Dozenten der experimentellen Lehrstühle der Physik
Dauer 4 SWS
Studiensemester 1
Schein Ja (6 LP)
Termin Mo u. Do, 15:45-17:15, 2004/HZ
Inhalt Time Table:

  • 19.10.06, 23.10.06 Karl - Ion beam analysis; RBS/Channeling SIMS
  • 26.10.06, 30.10.06 Ebbinghaus/Hanss - Thermal analysis
  • 02.11.06, 06.11.06 Horn - High resolution imaging
  • 09.11.06, 13.11.06 Opitz - Organic Semiconductors: Thin-Film Preparation and Characterisation
  • 16.11.06, 20.11.06 Ebbecke - Transport measurements in thin-film Semiconductors
  • 23.11.06, 27.11.06 Lindner - Electron Microscopy
  • 30.11.06, 04.12.06 Scherer - Diffraction methods
  • 07.12.06, 11.12.06 Hartmann - N.N.
  • 14.12.06, 18.12.06 Haider - Mechanical characterisation and mechanical spectroscopy
  • 21.12.06, 08.01.07 Heinrich - Optical characterisation
  • 11.01.07, 15.01.07 Kuntscher - Synchrotron Spectroscopy
  • 18.01.07, 22.01.07 Hemberger - Dielectric spectroscopy
  • 25.01.07, 29.01.07 Mannhart - Low Noise Electronic Measurements
  • 01.02.07, 05.02.07 Tidecks - Low temperature measurements
  • 08.02.07 all - written exam