
Grundlagen der konvergenten Elektronenbeugung (CBED)
Vortrag im Seminar Elektronenmikroskopie Wintersemester
1997/98 am 25. Februar 1998 und
im Seminar Elektronenmikroskopie Sommersemester
2000 am 25. Oktober 2000 (ergänzt und erweitert)
Inhalt
- Terminologie
- Geschichte
- Motivation
- Grundlagen
- Ewald-Konstruktion im parallelen Strahl
- Ewald-Konstruktion im konvergenten Strahl
- Zustandekommen der Indices und
Indizierung eines Beugungsbildes
- Zustandekommen von Kikuchi-Linien
- Einfluß der C2-Blende am Bild,
Patternarten
- CBED-Bild
- Strahlengang
- Komplettes Bild mit allen Linienarten
- Vergleich Kikuchi vs. CBED
- Übersicht der Linienarten
- Simulation der HOLZ-Linien
- Experimentelles
- Experimentelle Vorgehensweise
- Flächenvergleich
- Bestimmung der Gitterparameter
- Verzerrung durch Linsenfehler
- Wahl der Ebene
- Energiefilterung
- Anwendungen
- Cu+Al: Gitterparameterbestimmung
- Lokale Verzerrungen in verformtem Cu,
Bild
- Eigene Experimente
- Parallel -> konvergent
- Nullstrahl im Kossel-Pattern
- Wunschliste
- Zusammenfassung
Markus Mertinat, 25.10.2000