Grundlagen der konvergenten Elektronenbeugung (CBED)


Vortrag im Seminar Elektronenmikroskopie Wintersemester 1997/98 am 25. Februar 1998 und
im Seminar Elektronenmikroskopie Sommersemester 2000 am 25. Oktober 2000 (ergänzt und erweitert)

Inhalt

  1. Terminologie
  2. Geschichte
  3. Motivation
  4. Grundlagen
    1. Ewald-Konstruktion im parallelen Strahl
    2. Ewald-Konstruktion im konvergenten Strahl
    3. Zustandekommen der Indices und Indizierung eines Beugungsbildes
    4. Zustandekommen von Kikuchi-Linien
    5. Einfluß der C2-Blende am Bild, Patternarten
    6. CBED-Bild
    7. Strahlengang
    8. Komplettes Bild mit allen Linienarten
    9. Vergleich Kikuchi vs. CBED
    10. Übersicht der Linienarten
    11. Simulation der HOLZ-Linien
  5. Experimentelles
    1. Experimentelle Vorgehensweise
    2. Flächenvergleich
    3. Bestimmung der Gitterparameter
    4. Verzerrung durch Linsenfehler
    5. Wahl der Ebene
    6. Energiefilterung
  6. Anwendungen
    1. Cu+Al: Gitterparameterbestimmung
    2. Lokale Verzerrungen in verformtem Cu, Bild
  7. Eigene Experimente
    1. Parallel -> konvergent
    2. Nullstrahl im Kossel-Pattern
  8. Wunschliste
  9. Zusammenfassung

Markus Mertinat, 25.10.2000