Probencharakterisierung Experimentalphysik VI

YBa₂Cu₃O_7-δ (YBCO) Dünnfilme auf SrTiO₃,
abgebildet mit Rastersondenmikroskopie

Die Gitterkonstante von YBCO entlang der c-Achse ist 1.1 nm. Orientierte Dünnfilme zeigen Stufen und manchmal Wachstumsspiralen mit einer Stufenhöhe von einer Gitterkonstante.

Topographie-Daten, Bildgröße 2 µm, Höhenbereich 20 nm. Instrument: Digital Instruments Nanoscope IIIa Multimode, im "Tapping Mode".

Die Stufen treten in der Ableitung des Topographiesignals, dem Fehlersignal, deutlicher hervor.

Fehlersignal, Bildgröße 5 µm. Instrument: Park Scientific Instruments Autoprobe CP, im "Intermittent Contact Mode".

Mosaik aus Einzelbildern entlang einer Korngrenze in YBCO

YBa₂Cu₃O_7-x Film, gewachsen auf einem 24° SrTiO₃ symmetrischen Bikristallsubstrat durch gepulste Laserablation.
Filmdicke ca. 330 nm
Probe No. B009 (April 1998)

AFM

Park Autoprobe^TM CP
Multitask-Kopf, mit 100 µm Scanner und Scan Master^TM

AFM Abbildung

Umgebungsbedingungen
"Intermittent-contact-mode"
Mosaik aus 13 AFM Bildern
Bildgröße: 2.5 µm
z Skala 50 nm

0 nm

Die aktive Linearisierung der Scannerbewegungen erlaubt es, der Korngrenze über Dutzende von Mikrometern zu folgen und ein Mosaik aus den Bildern zusammenzufügen. Die Korngrenze ist leicht facettiert (max. 100 nm Abweichung von gerader Linie).

Weitere Bilder zeigen AFM-Aufnahmen von Ionenkristallen auf größerer Skala.

Probencharakterisierung

YBa2Cu3O7-δ (YBCO) Dünnfilme auf SrTiO3, abgebildet mit Rastersondenmikroskopie

Mosaik aus Einzelbildern entlang einer Korngrenze in YBCO

AFM

AFM Abbildung

YBa₂Cu₃O_7-δ (YBCO) Dünnfilme auf SrTiO₃,
abgebildet mit Rastersondenmikroskopie