EKM
Strukturierte Probe Vorlesung RABiTS Band
Atome Strukturierte Probe Im Labor

same page in english


[an error occurred while processing this directive]
Klausurergebnisse

Physik III

LaTeX

same page in english

01.02.2012



counter
 

Lehrstuhl Experimentalphysik VI

FP 20

Rasterkraftmikroskopie

Kurzzusammenfassung

Die Rasterkraftmikroskopie hat in Forschung und Industrie weite Verbreitung gefunden, wenn es um die Abbildung von Oberflächen geht. Wird ein Rasterkraftmikroskop an Luft betrieben, so ist im Allgemeinen keine atomare Auflösung möglich, jedoch können auf der Nanometer- bis Mikrometerskala Topographiebilder einer Vielzahl von Oberflächen erstellt werden. Damit hat diese Methode ein breites Anwendungsspektrum im technischen Bereich.

Im Versuch werden die physikalischen Grundlagen der Kraftmikroskopie erklärt. Im Zentrum stehen Experimente mit einem kommerziellen Kraftmikroskop. Sie haben die Möglichkeit, eine selbst mitgebrachte Probe zu untersuchen.

Versuchsbeschreibung

Ansprechpartner und weitere Informationen:

Martin Breitschaft, Raum 250 (Gebäude Süd), Tel. 3672
Rainer Jany, Raum 283 (Gebäude Süd), Tel. 3662

Versuchsdurchführung: in Raum 290 (Gebäude Süd), Tel. 3653. mittwochs ab 9:00; Zusätzliche Termine in der vorlesungsfreien Zeit können nach Rücksprache und bis zu einer gewissen Anzahl angeboten werden.