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06344


Physik Wintersemester 2002/2003
06344 Rastertunnelmikroskopie und Rasterkraftmikroskopie [WPV]
   
Dozent Giessibl
Dauer 2 SWS
Studiensemester 7
Schein Nein
Termin Mo, 14:15-15:45, 288/Süd
Inhalt I. Prinzip der Tunnel- und Kraftmikroskopie (statisch und dynamisch) II. Technik des Scanning Tunneling Microscopes (STM) und Atomic Force Microscopes (AFM) 1. Nano-Sensoren für Tunnelströme (nA) und atomare Kräfte (nN) 2. 3d Feinpositionierung (xyz Scanner) 3. Grobpositionierung (Coarse-approach) 4. Schwingungsisolation 5. Elektronik (Operationsverstärker, Regelschleifen) 6. Ultrahochvakuum (UHV)-technik, Oberflächen III. Theorie 1. Tunnelstrom 2. Kräfte zwischen Spitze und OberflächeIV. Anwendungen 1. Messung der Topographie von Oberflächen mit atomarer Auflösung 2. Tunnelspektroskopie, Kraftspektroskopie 3. "Nanolithographie"
Vorkenntnisse Elektrodynamik, Quantenmechanik, Festkörperphysik
Literatur a) Chen C.J., Introduction to Scanning Tunneling Microscopy. Oxford University Press, New York (1993). b) Morita S. et al. (Eds.), Noncontact Atomic Force Microscopy. Springer (2002). c) Vorlesungsskriptum
Weitere Informationen Beginn schon am 14.10, aber keine Vorlesung am 21.10.02.