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FP 20: Rasterkraftmikroskopie


Kurzzusammenfassung

Die Rasterkraftmikroskopie hat in Forschung und Industrie weite Verbreitung gefunden, wenn es um die Abbildung von Oberflächen geht. Wird ein Rasterkraftmikroskop an Luft betrieben, so ist im Allgemeinen keine atomare Auflösung möglich, jedoch können auf der Nanometer- bis Mikrometerskala Topographiebilder einer Vielzahl von Oberflächen erstellt werden. Damit hat diese Methode ein breites Anwendungsspektrum im technischen Bereich.

Im Versuch werden die physikalischen Grundlagen der Kraftmikroskopie erklärt. Im Zentrum stehen Experimente mit einem kommerziellen Kraftmikroskop. Sie haben die Möglichkeit, eine selbst mitgebrachte Probe zu untersuchen.

Versuchsbeschreibung

Ansprechpartner und weitere Informationen:

Andreas Schneider, Raum 253 (Gebäude Süd), Tel. 3669
Friedrich Freund, Raum 283 (Gebäude Süd), Tel. 3662
Jannis Maiwald,  Raum 283 (Gebäude Süd), Tel. 3662

Versuchsdurchführung: in Raum 245 (Gebäude Süd), Tel. 3658. mittwochs ab 9:00; Zusätzliche Termine in der vorlesungsfreien Zeit können nach Rücksprache und bis zu einer gewissen Anzahl angeboten werden.