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Stefan Hembacher
Simultane Rasterkraft- und Rastertunnelmikroskopie bei 5K im Ultrahochvakuum
Betreuer: Prof. Dr. J. Mannhart, PD F. J. Giessibl [Experimentalphysik VI]
Datum der mündlichen Prüfung: 27.11.2003
123 Seiten, deutsch
Im Rahmen dieser Arbeit ist ein kombiniertes Rastertunnel- Rasterkraftmikroskop aufgebaut worden, welches Messungen bei Temperaturen von 4.9 K im Ultrahochvakuum erlaubt. Dieses Instrument eröffnet vielfältige Möglichkeiten zur Untersuchung von Festkörperoberflächen, mit einer bislang unerreicht hohen räumlichen Auflösung. Erstmals ist es mit diesem Mikroskop gelungen, die hexagonale Struktur von Graphit mit einem Rasterkraftmikroskop abzubilden.